PCBAの清浄度検査方法とは何ですか?

目視検査方法

PCBA に対して拡大鏡 (X5) または光学顕微鏡を使用して、はんだ、ドロス、錫ビーズの固体残留物、未固定の金属粒子、その他の汚染物質の存在を観察することによって、洗浄の品質を評価します。通常、PCBA 表面は可能な限りきれいであり、残留物や汚染物質の痕跡が目に見えないことが必要です。これは定性的な指標であり、通常はユーザーの要件、独自の検査判断基準、検査中に使用される倍率を対象としています。この方法の特徴は、そのシンプルさと使いやすさです。欠点は、コンポーネントの底の汚染物質や残留イオン汚染物質をチェックできないことであり、要求の少ない用途に適しています。

溶媒抽出法

溶媒抽出法は、イオン性汚染物質含有量テストとしても知られています。これは、イオン性汚染物質含有量の平均試験の一種であり、試験は一般的に使用されるIPC法（IPC-TM-610.2.3.25）であり、PCBAを洗浄し、イオン性汚染度試験機の試験溶液（75％±2％純イソプロピル）に浸漬します。アルコールと 25% の脱イオン水)、イオン残留物が溶媒に溶解します。溶媒を注意深く収集し、その抵抗率を測定します。

イオン性汚染物質は通常、ハロゲンイオン、酸イオン、腐食による金属イオンなどのはんだの活性物質に由来し、その結果は単位面積当たりの塩化ナトリウム（NaCl）当量数として表されます。つまり、これらのイオン性汚染物質 (溶媒に溶解できるもののみを含む) の総量は NaCl の量と等価であり、PCBA の表面に必ずしもまたは排他的に存在するわけではありません。

表面絶縁抵抗試験 (SIR)

この方法では、PCBA 上の導体間の表面絶縁抵抗を測定します。表面絶縁抵抗の測定は、温度、湿度、電圧、時間のさまざまな条件下での汚染による漏れを示します。利点は直接的かつ定量的な測定です。はんだペーストの局所的な領域の存在を検出できます。PCBA はんだペースト内の残留フラックスは主にデバイスと PCB の間の継ぎ目、特に BGA のはんだ接合部に存在するため、洗浄効果をさらに検証したり、安全性を検証したりするために除去するのがより困難です。使用されるはんだペーストの（電気的性能）、コンポーネントと PCB の間の継ぎ目の表面抵抗の測定は、通常、PCBA の洗浄効果をチェックするために使用されます。

一般的な SIR 測定条件は、周囲温度 85°C、周囲湿度 85% RH、測定バイアス 100V での 170 時間のテストです。

NeoDen PCB 洗浄機

説明

PCB 表面洗浄機サポート: サポート フレーム 1 セット

ブラシ：帯電防止高密度ブラシ

集塵グループ：ボリュームコレクトボックス

帯電防止装置：入口装置と出口装置のセット

仕様